В период с 16-18 июня 2026 года в г. Москве состоялась VI Всероссийская научно-техническая конференция «Метрологическое обеспечение фотоники - 2026» - ключевая отраслевая конференция ФГБУ «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГБУ «ВНИИОФИ»).

Впервые конференция была организована и проведена совместно с АО «Швабе», входящим в контур ГК «Ростех» и являющимся лидером отечественного производства оптики и оптоэлектроники военного и гражданского, в том числе медицинского назначения, лазерных систем и комплексов, современных оптических материалов и технологий, а также другой высокотехнологичной продукции.

Заседания конференции проходили в АО «Швабе», г. Москва.

Конференция была организована при поддержке Министерства промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России), Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) и Государственной корпорации «Ростех».

Целью конференции являлось:

• объединение совместных усилий науки и производства с целью обеспечения технологического суверенитета страны и импортонезависимости в области производства оптико-электронных приборов и комплексов, лазерной техники, электронной компонентной базы и материалов для них;
• повышение уровня подготовки кадров и эффективное освоение производителями лучших научных и методических отечественных и мировых достижений в области метрологии в фотонике;
• создание более тесной интеграции научных метрологических институтов и промышленности с целью повышения точности и достоверности измерений, а в следствие этого и качества производимой продукции;
• решения проблемных вопросов метрологического обеспечения фотоники.

В конференции участвовали более 90 специалистов, в том числе представители Минпромторга России, Минобороны России, Росстандарта, государственных корпораций (ГК «Ростех», ГК «Росатом» и ГК «Роскосмос»), ведущие специалисты государственных научных метрологических институтов, а также Главного научного метрологического центра Минобороны России, научно-исследовательских институтов и образовательных институтов, государственных региональных центров метрологии, а также представители предприятий-изготовителей лазерной и оптической продукции и другие заинтересованные организации, всего более 45 организаций, которые были представлены: ФГБУ «ВНИИОФИ», ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева», ФГУП «ВНИИФТРИ», «Сибирский кольцевой источник фотонов» ФГБУН «Федеральный исследовательский центр «Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения Российской академии наук», ФГАОУ ВО «Южно-Уральский государственный университет (национальный исследовательский университет) (ФГАОУ ВО ЮУрГУ (НИУ), Физический факультет МГУ имени М.В. Ломоносова, НИУ МИЭТ, МГТУ им. Н.Э. Баумана, Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения, ФГБУН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, АО «Научно-исследовательский институт «Гириконд», Институт технического регулирования, обеспечения единства измерений и стандартизации Росатома («Атомстандарт»), ПАО «Красногорский завод им. С.А. Зверева» (ПАО «КМЗ»), ГНЦ РФ АО «НПО «Орион», АО «НПО «Государственный институт прикладной оптики» (АО «НПО «ГИПО»), АО «НИИ «Полюс» им. М.Ф. Стельмаха», АО «Лыткаринский завод оптического стекла», АО «Производственное Объединение «Уральский Оптико-Механический Завод» имени Э.С.Яламова» (АО «ПО УОМЗ»), АО «Зеленоградский Нанотехнологический Центр» (АО «ЗНТЦ»), АО «Российские космические системы», Лазерная ассоциация, АО «Акметрон», АО «ЛЛС», ООО ВПГ «Лазеруан», ООО «Научно-производственный комплекс «Диагностика», ООО «Электростекло», ООО «Научно-техническое предприятие «ТКА», ООО «Активная фотоника», АО «НИИГРП «Плазма», АО «Микрон», АО «Нанотроника», АО «НИИМЭ», АО «НПП «ЭСТО», АО «Композит», ООО «Криотрейд Инжиниринг», АО «Гиредмет», АО НИИТМ, ООО НПЦ «Лазеры и аппаратура ТМ», АО «НИИПП», ФБУ «Краснодарский ЦСМ», ФБУ «НИЦ ПМ - Ростест», ФБУ «Нижегородский ЦСМ», АО «РТ-Техприемка», Журнал «Измерительная техника».

На конференцию было заявлено 56 докладов, из которых на заседании конференции было доложено 45 (в том числе 5 пленарных, 40 устных доклада). Оргкомитетом были получены в печатном виде и включены в Сборник тезисов конференции 40 докладов.

На заседании конференции были представлены доклады по следующим пяти основным научным направлениям:

• Фундаментальные исследования в области фотоники;
• Измерительные технологии фотоники для космических исследований;
• Оптические материалы для фотоники;
• Метрология когерентных источников оптического излучения;
• Измерительные технологии фотоники для фотонных интегральных схем, квантовых коммуникаций, квантовых сенсоров, оптико-электронных приборов.

В рамках конференции ФГБУ «ВНИИОФИ» совместно с группой компаний «Элемент» провели круглый стол «Метрологическое обеспечение приборостроения для микроэлектроники».

В работе круглого стола приняли участие представители федеральных органов исполнительной власти, ведущие разработчики и производители технологического оборудования для микроэлектроники, специалисты научно-исследовательских и метрологических институтов, а также все участники конференции.

В рамках круглого стола были обсуждены актуальные задачи, связанные с разработкой отечественной измерительной базы, с созданием эталонов, стандартизацией и обеспечением единства измерений в сегменте точного приборостроения для полупроводниковой индустрии. Участники представили реализуемые и планируемые к реализации работы в области приборостроения для микроэлектроники, а также успешные подходы, применяемые при выполнении работ, обсуждены потребность и своевременная необходимость и достаточность метрологического обеспечения для приемки работ, выработаны механизмы дальнейшего взаимодействия в области метрологического обеспечения отрасли приборостроения для микроэлектроники.