25.07.2014 ФГУП «ВНИИОФИ» посетила делегация ученых метрологов Сианьского научного института прикладной оптики.

Китайские специалисты ознакомились с разработками института в области радиометрии и фотометрии (в том числе с применением моделей абсолютных черных тел), а так же в области исследований быстропротекающих процессов.

По итогам ознакомления с деятельностью института китайская сторона высказала заинтересованность в дальнейшем углублении научно-технического сотрудничества и пригласила делегацию ВНИИОФИ посетить китайский институт в марте 2015 года.