23.01.2014
Трехсторонняя встреча представителей Carl Zeiss Microscopy GmbH, Компании ОПТЭК, и ФГУП ВНИИОФИ

В ФГУП ВНИИОФИ состоялась трехсторонняя встреча представителей Carl Zeiss Microscopy GmbH, Компании ОПТЭК, и ФГУП ВНИИОФИ, с участием руководства Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии РФ.

1news2301

Со стороны Росстандарта во встрече принял участие Заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии д.т.н. Булыгин Ф.В.

От Компании Carl Zeiss присутствовали:

  • Президент Dr. Ulrich Simon;
  • Вице-президент Dr. Herbert Schaden;
  • Руководитель по направлению материаловедения Dr. Frank Stietz.

От Компании ОПТЭК присутствовали:

  • Генеральный директор Игельник Максим Семенович;
  • Руководитель департамента междисциплинарных проектов Ульяненков Александр Георгиевич;
  • Руководитель департамента биотехнологий Торчинский Леонид;
  • Руководитель Департамента научного и промышленного материаловедения Власенко Вячеслав Сергеевич.

От ВНИИОФИ присутствовали:

  • Директор ВНИИОФИ д.т.н. Крутиков В.Н.;
  • Первый заместитель директора д.т.н. Иванов В.С.;
  • Заместитель директора по науке д.т.н. Золотаревский Ю.М.;
  • Руководитель Лаборатории биофизических и специальных информационно-измерительных систем к.т.н. Лясковский В.Л.

Участники встречи обсудили перспективы взаимного сотрудничества в области рентгеновской микроскопии, развития программ обучения специалистов и поверки рентгеновского оборудования Carl Zeiss.

2news2301

3news2301

 

Услуги

ФГБУ «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Продукция

В соответствии с положениями устава ФГБУ «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГБУ «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | 2009 - 2024 | Написать разработчику |
Яндекс.Метрика