11 октября 2013 года во ВНИИОФИ состоялся визит представителей национального метрологического института Южной Кореи KRISS.

Делегацию возглавил директор департамента физической метрологии Парк Сым-Нам. В ходе визита представители KRISS познакомились с работой лаборатории радиометрии, фотометрии, спектрофотометрии и колориметрии некогерентного излучения и центром метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

На встрече с первым заместителем Директора ВНИИОФИ Ивановым В.С. состоялось обсуждение перспектив совместной работы ВНИИОФИ и KRISS в области метрологии, и обеспечения единства измерений, а так же был подписан меморандум о сотрудничестве между ВНИИОФИ и KRISS на следующие пять лет. Со стороны KRISS меморандум подписал президент Дай Им Канг, со стороны ВНИИОФИ первый заместитель Директора Иванов В.С.