22 - 24 апреля 2014 Прошла Первая Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в нанотехнологиях» Конференцию провело Федеральное агентством по техническому регулированию и метрологии совместно с ФГУП «ВНИИОФИ» при поддержке Минобрнауки, Минпромторга.

Цели конференции:

• Демонстрация результатов научно-исследовательской деятельности в области метрологического обеспечения нанотехнологий;
• Совершенствование средств и методов метрологического обеспечения в области нанотехнологий;
• Развитие метрологической инфраструктуры нанотехнологий;
• Выявление перспективных проектов развития метрологии в нанотехнологиях, направлений, их продвижение и реализация;
• Развитие инновационных технологий по метрологическому обеспечению в области нанотехнологий;
• Проведение испытаний, поверки, калибровки средств измерений, аттестации методов измерений для метрологического обеспечения нанотехнологий;
• Подготовка кадров в области метрологического обеспечения нанотехнологий.