18 февраля 2015 года в рамках проведения аккредитации Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики» во ФГУП «ВНИИОФИ» работала Экспертная комиссия Минобразования России, которая посетила ВНИИОФИ, на базе которого создана кафедра «Измерительные технологии в наноиндустрии» НИУ «ВШЭ»

Состав комиссии:

• Д.т.н., профессора кафедры «Информационно-измерительные системы» СПбГЭТУ Антонюка Е.М.
• К.ф.-м.н. доцента кафедры «Теоретическая физика» КемГУ Копытова А.В.
• Зам.зав.кафедрой «Интегральная электроника и микросистемы», доцента НИУ «МИЭТ» Миндеевой А.А.
• К.т.н., доцента, руководителя Информационного центра развития инженерного образования СПбГЭТУ Шапошникова С.О.

В процессе посещения члены экспертной комиссии ознакомились с эталонной базой ВНИИОФИ в области измерений состава и свойств веществ и материалов, параметров коротко-импульсного электромагнитного излучения больших уровней, волоконно-оптических линий связи, инфракрасного излучения, светодиодной техники и измерительной техники для космического базирования, а также с действующими во ВНИИОФИ Центром наноидустрии и Центром испытаний стандартных образцов спецсплавов.

Члены комиссии провели собеседование со студентами, проходящими обучение на кафедре по магистерской программе, и с преподавателями НИУ «ВШЭ», проводящими обучение по аккредитуемой учебной программе. Базовое оснащение учебного процесса получило высокую оценку комиссии.