Подразделение Д-4 совместно с М-44 провели модернизацию автоматизированного интерференционного микропрофилометра (АИМ).

Микропрофилометр предназначен для бесконтактного автоматического измерения микрорельефа поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, а также высотных и шаговых параметров шероховатости.