Делегация метрологов ВНИИОФИ во главе с и.о. директора А.С. Батуриным в период с 11 по 16 сентября 2017 г. посетила Национальный институт метрологии Китая (NIM). Метрологи ВНИИОФИ ознакомились с новинками эталонной базы NIM.

По результатам анализа выполнения "Программы совместных работ NIM-ВНИИОФИ на период 2015-2020 г.г." было согласовано несколько новых проектов, в частности, по разработке метрологического обеспечения измерений радиометрическими методами температур в диапазоне 2000‑3500 °С. Китайская сторона выразила готовность приобрести ряд высокотемпературных "черных тел" для диапазона 2000-3500 °С, разработанных ВНИИОФИ.

Принято также решение о включении в план совместных работ раздела по цифровой медицине. В данный раздел войдут мероприятия по созданию методов дистанционной цифровой поверки и калибровки медицинских измерительных приборов, сличению медицинского эталонного оборудования и обмен соответствующими методами цифровой передачи и обработки результатов измерений.

Метрологи ВНИИОФИ также приняли участие во 2-ой Китайской конференции по качеству. Был сделан доклад на тему "Метрологическое обеспечение качества". В процессе конференции были проведены встречи с ведущими специалистами в области качества из Китая, США, Японии, Европейского союза, Австралии. Нет сомнения, что данная поездка в Китай будет способствовать повышению качества оптико-физических измерений и укреплению деловых отношений между российскими и китайскими метрологами.