Росстандарт и ВНИИОФИ объявляют о проведении Второй Всероссийской научно-технической конференции «Метрологическое обеспечение нанотехнологий» 17 мая 2016 года.

 

Конференция пройдет на ВДНХ в павильоне №69 во время проведения инновационного 12-го форума и выставки «Точные измерения - основа качества и безопасности» (MetrolExpo’2016), приуроченных к Всемирному Дню метрологии, с 17 по 19 мая 2016 года.

Целью конференции являются:

• демонстрация результатов научно-исследовательской деятельности в области метрологического обеспечения нанотехнологий;
• совершенствование средств и методов метрологического обеспечения в области нанотехнологий;
• развитие метрологической инфраструктуры нанотехнологий;
• выявление перспективных проектов развития метрологии в нанотехнологиях, направлений, их продвижение и реализация;
• развитие инновационных технологий по метрологическому обеспечению в области нанотехнологий;
• проведение испытаний, поверки, калибровки средств измерений, аттестации методов измерений для  метрологического обеспечения нанотехнологий;
• подготовка кадров в области метрологического обеспечения нанотехнологий.