МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ УСЛУГИ

ЧАСТО ИНТЕРЕСУЮТСЯ

ПРЕЙСКУРАНТ НА ПОВЕРКУ СИ

ПРЕЙСКУРАНТ НА ПОВЕРКУ ЭТАЛОННЫХ СИ 

Эталонные средства измерений предназначены для поверки и калибровки рабочих средств измерений

Если у вас рабочее средство измерений, воспользуйтесь прейскурантом по ссылке выше

ВЫДАЧА И ПРИЕМ ВАШЕГО ОБОРУДОВАНИЯ

ПОДРОБНЕЕ ОБ УСЛУГАХ

Поверка СИ Калибровка СИ
Утверждение типа СИ Испытания СИ
Аттестация СИ и методик измерений

Посмотреть все услуги

ВОПРОСЫ ПО УСЛУГАМ

8 (800) 350 25 51
8 (495) 665 52 91
доб.3434
vniiofi@vniiofi.ru

ВОПРОСЫ ПО ПРИБОРАМ

8 (800) 350 25 51
8 (495) 665 52 91
доб.3535
vniiofi@vniiofi.ru
ФГУП «ВНИИОФИ» проводит подготовку научных кадров по программам послевузовского и дополнительного профессионального образования, а также обучение студентов, их стажировку и производственную практику
Контактная информация

Заведующий кафедрой– к.ф.-м.н. Филимонов Иван Сергеевич

тел. +7 (495) 781 45 78, +7 (495) 781 80 31

convert1

Кафедра оптико-физических измерений Академии стандартизации, метрологии, сертификации

aspirantyra_738

Кафедра проводит повышение квалификации и профессиональную переподготовку специалистов в области широкого круга оптико-физических измерений с выдачей свидетельства государственного образца.

Кафедра базируется во ФГУП «ВНИИОФИ» и имеет возможность проводить лабораторные и практические работы на самом современном измерительном оборудовании из состава ЦКП ВНИИОФИ.

Продолжительность повышения квалификации - три недели, учебный процесс может осуществляться как в форме групповых занятий, так и в индивидуальной форме.

Обучение предназначено для специалистов, выполняющих работы по поверке и калибровке оптико-физических средств измерений в сфере Государственного метрологического контроля и надзора в соответствии с областью их аккредитации. для специалистов, выполняющих работы по оценке и подтверждению соответствия продукции с использованием современных физико-химических методов и средств аналитического контроля.

Программы предусматривают изучение теоретических и прикладных аспектов оптико-физических и физико-химических методов измерений, контроля и диагностики. Особое внимание уделено методам и средствам поверки применительно к средствам измерений в фотометрии, радиометрии, лазерометрии и в других областях оптико-физических измерений. Изучаются вопросы метрологического обеспечения в РФ, физические основы измерений параметров биообъектов и биологических проб, средства измерений медицинского назначения, технические и метрологические характеристики средств; измерений медицинского назначения, стандартных образцов. Основное внимание уделено поверке средств измерений в области лабораторной медицины и офтальмологических приборов. Обсуждаются методики поверки отечественных и зарубежных средств измерений медицинского назначения, а также методики поверки мер для поверки медицинских приборов.

Программы предназначены для повышения квалификации широкого круга Целью программ является приобретение знаний, умений и навыков в областях метрологического обеспечения производства.

Основные пользователи услуг кафедры - работники территориальных подразделений Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, а также метрологических служб учреждений здравоохранения различных регионов России; Инженерно-технические работники и специалисты учреждений и предприятий, специалисты ЦСМ, ЦГСЭН, санитарно-гигиенических, заводских и специализированных лабораторий, а также лабораторий, занимающихся токсикологической оценкой материалов, изделий и объектов, специалистов отечественных фирм и представительств зарубежных фирм, занимающихся производством и продажей современных аналитических средств измерений

В настоящее время кафедра проводит обучение по следующим дополнительным профессиональным программам:

  1. Поверка и калибровка оптико-физических средств измерений
  2. Поверка и калибровка оптико-физических и физико-химических средств измерений
  3. Метрологическое обеспечение в области фотоники
  4. Поверка и калибровка средств измерений функциональной диагностики (радиоэлектронных СИМН)
  5. Метрологическое обеспечение в здравоохранении
  6. Поверка и калибровка средств измерений в области лабораторной медицины
  7. Испытание ультразвукового и лазерного медицинского оборудования
  8. Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов
  9. Современные методы и средства аналитического контроля. Тема: Техника и практика газохроматографического анализа
  10. Современные методы и средства аналитического контроля. Тема: Техника и практика элементного анализа методом атомной абсорбции
  11. Современные методы и средства аналитического контроля. Тема: Техника и практика метода высокоэффективной жидкостной хроматографии (ВЭЖХ)
  12. Современные методы и средства аналитического контроля. Тема: Физико-химические методы и средства количественного химического анализа
ФГБУ «ВНИИОФИ» проводит подготовку научных кадров по программам подготовки кадров высшей квалификации и дополнительного профессионального образования, а также обучение студентов, их стажировку и производственную практику
Диссертационный совет ВНИИОФИ

Диссертационный совет по защите диссертаций на соискание ученой степени кандидата наук, на соискание ученой степени доктора наук 32.1.008.01 утвержден приказом Министерства науки и высшего образования Российской Федерации № 577/нк от 11 июня 2024г.

Диссертационному совету предоставляется право приема для защиты диссертаций по специальностям:

  • 1.3.6 – оптика (технические науки);
  • 2.2.11– информационно – измерительные и управляющие системы (технические науки).

Более подробную информацию о диссертационном совете смотрите в соответствующем разделе

Аспирантура ФГБУ ВНИИОФИ

Аспирантура открыта в соответствии с Приказом Министра высшего и среднего специального образования СССР № 393 от 12 июня 1967 года

В настоящее время, в соответствии с лицензией, регистрационный номер лицензии Л035-00115-77/00648193, выданной Федеральной службой по надзору в сфере образования и науки (приказ о переоформлении лицензии №477 от 24.03.2023г.) ФГБУ «ВНИИОФИ» имеет право на осуществление образовательной деятельности по программам высшего образования – программам подготовки научных и научно-педагогических кадров в аспирантуре:

Код Наименование Уровень образования Присваиваемые квалификации

1.3.6

Оптика

Высшее образование – подготовка кадров высшей квалификации

2.2.10

Метрология и метрологическое обеспечение

Высшее образование – подготовка кадров высшей квалификации

2.2.11

Информационно-измерительные и управляющие системы

Высшее образование – подготовка кадров высшей квалификации

12.06.01

Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии

Высшее образование – подготовка кадров высшей квалификации

Исследователь.

Преподаватель-исследователь

16.06.01

Физико-технические науки и технологии

Высшее образование – подготовка кадров высшей квалификации

Исследователь.

Преподаватель-исследователь

Обучение в аспирантуре осуществляется по очной (4 года) форме обучения.

Срок действия лицензии - бессрочно.

Зав. аспирантурой ФГБУ ВНИИОФИ Анисимова Лариса Николаевна (495) 781 45 23

Обучение на кафедрах
  • Обучение по программам дополнительного профессионального образования в Академии стандартизации, метрологии и сертификации:
  • Обучение магистрантов на базовой кафедре МИЭМ НИУ ВШЭ
  • Обучение студентов на базовой кафедре «Оптико-физические измерения» факультета «Электроника» МИРЭА
  • Обучение студентов в Научно образовательном центре кафедры «Физика» РГТУ им. К.Э.Циолковского (МАТИ)
  • Стажировка и производственная практика студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана, МИРЭА, МИЭМ, МАТИ

ФГУП «ВНИИОФИ» проводит подготовку научных кадров по программам послевузовского и дополнительного профессионального образования, а также обучение студентов, их стажировку и производственную практику


Контактная информация

Заведующий кафедрой – д.т.н., проф. Крутиков Владимир Николаевич

тел. +7 (495) 437 56 33, +7 (495) 437 43 33

convert1

Подробнее о кафедре на сайте МИЭМ НИУ ВШЭ

Сведения о кафедре

aspirantyra_738

Базовая кафедра ВНИИОФИ в рамках своей образовательной и научной деятельности имеет доступ к современному технологическому парку организации, активно используя его. Возглавляет кафедру лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники, Академик метрологической академии РФ, президент региональной метрологической организации COOMET д.т.н., профессор В.Н. Крутиков

Образовательная деятельность 

Базовая кафедра Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений (ВНИИОФИ) участвует в реализации магистерских программ «Измерительные технологии наноиндустрии» и «Инжиниринг в электронике», обеспечивая углубленную подготовку магистрантов, занимающихся исследованиями в области метрологического обеспечения измерений, волоконно-оптических систем передачи информации, микро- и наноэлектроники.

Базовая кафедра занята в проведении научно-исследовательской практики, междисциплинарных курсовых работ, выпускных квалификационных работ магистрантов, проведении следующих дисциплин и научно-исследовательских семинаров:

  • Conformity Assessment of Nanotechnology Products
  • Метрологическое обеспечение нанотехнологий
  • Научно-исследовательский семинар "Измерительные технологии наноиндустрии"
  • Научно-исследовательский семинар "Инжиниринг в электронике"

Студенты, занимающиеся научно-исследовательской работой на базовой кафедре, применяют в своей научно-исследовательской практике и подготовке магистерской диссертации новейшее оборудование Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии ВНИИОФИ (ЦМО НАНО). ЦМО НАНО предназначен для удовлетворения существующих и прогнозируемых потребностей предприятий наноиндустрии в услугах по метрологическому и нормативно-методическому обеспечению, а также потребностей в испытаниях и сертификации продукции наноиндустрии. Студенты также могут использовать оборудование Центра коллективного пользования высокоточными методами и средствами оптико-физических измерений (ЦКП ВНИИОФИ) и других научно-исследовательских отделов и лабораторий ВНИИОФИ.

Государственные эталоны

Prev Next

Разработки и научные центры

Двойные стандарты? Нарушено единство измерений? Расскажите нам о проблемах
Госуслуги
Решаем вместе

 


Copyright ВНИИОФИ | 2009 - 2025 | Написать разработчику |
Яндекс.Метрика